大型仪器技术讲座: F-750果实品质检测仪、CI-600植物根系测定系统原理与应用

培训内容：F-750果实品质检测仪、CI-600植物根系测定系统原理与应用

培训时间：2024年01月23日(星期二)上午9:00

培训地点：西校区农科楼二楼207实验室

主讲人：郭峰  工程师

仪器简介：

F-750果实品质检测仪是一款用于分析与农产品品质密切相关的农产品内部及外部特性的测量仪器。NIR（近红外测定）技术在成套设备中的应用可提供客观量化的质量标准，已在生产中应用多年。配备便携式供电设备，可以把近红外分析技术带到田间使用，为作物收割前提供更好、更一致的作物成熟度的测定。F-750可进行物质的定量估算（如叶绿素）、确定多种物质的特性（如成熟度、TSS可溶性固形物、DM糖）并进行定性分析（如风味指数、个人偏好指数）。

CI-600植物根系测定系统是全球应用广泛的“土壤原位360度多层次旋转式根系图像监测设备”，可快速获取同一地点不同深度的根系图像以及同一地点不同时期根系图像。配置的根系分析软件可专业的分析植物的根长、表面积、体积、根尖数等根系形态参数，可进行不同时间空间多幅图片的拼接等。

作者：国家重点实验室 编辑：宣传部